PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
XC-V真空度測(cè)試儀基于電離電荷的采樣技術(shù) PC機(jī)控制測(cè)量、計(jì)算漏率、形成測(cè)量數(shù)據(jù)庫(kù)。漏電電流的處理內(nèi)置國(guó)內(nèi)外幾乎所有真空滅弧室的測(cè)量曲線判別*漏氣的真空滅弧室*的輸入保護(hù)電路
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產(chǎn)品介紹 |
基于電離電荷的采樣技術(shù) PC機(jī)控制測(cè)量、計(jì)算漏率、形成測(cè)量數(shù)據(jù)庫(kù)。漏電電流的處理內(nèi)置國(guó)內(nèi)外幾乎所有真空滅弧室的測(cè)量曲線判別*漏氣的真空滅弧室*的輸入保護(hù)電路 1. 測(cè)量范圍:1×10-5~1×10-1 pa 2. 測(cè)量誤差:1×10-4~1×10-1 pa中誤差<5% 3. 測(cè)量分辨率:10-5 pa 基于電離電荷的采樣技術(shù) PC機(jī)控制測(cè)量、計(jì)算漏率、形成測(cè)量數(shù)據(jù)庫(kù)。漏電電流的處理內(nèi)置國(guó)內(nèi)外幾乎所有真空滅弧室的測(cè)量曲線判別*漏氣的真空滅弧室*的輸入保護(hù)電路 1. 測(cè)量范圍:1×10-5~1×10-1 pa 2. 測(cè)量誤差:1×10-4~1×10-1 pa中誤差<5% 3. 測(cè)量分辨率:10-5 pa XC-V真空度測(cè)試儀 XC-V真空度測(cè)試儀 |
XC-V真空度測(cè)試儀
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